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本培训紧密围绕软件瑕疵这一主题,从软件瑕疵的成本曲线讲起,基于在集成电路领域广被认可的Design For Test(D4T)和Design For Debug(D4D)思想,系统介绍如何从产品的设计阶段就开始规划对抗软件瑕疵的基础设施,如何在产品编码和实现阶段利用这些设施及早发现瑕疵,如何在测试阶段更快的降低瑕疵数量,以及如何在产品发布后及时发现和修复残留的瑕疵。